【學(xué)位授予單位】：燕山大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2004
【分類號(hào)】：TH82
【DOI】：CNKI:CDMD:2.2004.061779
【目錄】：
- 摘要4-5
- Abstract5-9
- 第1章 緒論9-17
- 1.1 光纖傳感器9-11
- 1.1.1 光纖傳感器簡(jiǎn)介9
- 1.1.2 光纖傳感器發(fā)展及現(xiàn)狀9-11
- 1.2 光纖傳感器的特點(diǎn)11-12
- 1.3 橋梁檢測(cè)技術(shù)12-14
- 1.3.1 應(yīng)變測(cè)試和無損檢測(cè)的意義12-13
- 1.3.2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀13-14
- 1.4 課題研究的目的和意義14-15
- 1.5 本課題的工作及目標(biāo)15-17
- 第2章 光纖應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)的原理分析17-24
- 2.1 脈沖激光測(cè)距基本原理17-18
- 2.2 光纖應(yīng)變測(cè)試原理18-20
- 2.3 基于激光脈沖時(shí)間測(cè)量法的光纖應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)20-22
- 2.4 系統(tǒng)主要誤差分析22-23
- 2.5 本章小結(jié)23-24
- 第3章 光纖應(yīng)變測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)24-44
- 3.1 光纖24-28
- 3.1.1 光纖的類別24
- 3.1.2 光纖的傳輸特性24-27
- 3.1.3 光纖的選擇27-28
- 3.2 光源28-30
- 3.2.1 半導(dǎo)體激光器工作原理28-29
- 3.2.2 半導(dǎo)體光源的對(duì)比及選擇29-30
- 3.3 光耦合器件30-33
- 3.3.1 光耦合器件的定義及分類30
- 3.3.2 光耦合器特性的一般技術(shù)參數(shù)及選擇30-33
- 3.4 光探測(cè)器33-40
- 3.4.1 光探測(cè)器的基本參數(shù)33-35
- 3.4.2 雪崩光電二極管(APD)35-38
- 3.4.3 溫度補(bǔ)償電路設(shè)計(jì)38-39
- 3.4.4 光探測(cè)器選擇與使用中的注意事項(xiàng)39-40
- 3.5 前置放大器類型選擇40-41
- 3.6 時(shí)刻鑒別方法選擇41-42
- 3.7 本章小結(jié)42-44
- 第4章 時(shí)間間隔測(cè)量單元設(shè)計(jì)44-68
- 4.1 MCU+CPLD設(shè)計(jì)概述44-50
- 4.1.1 單片機(jī)綜述44-45
- 4.1.2 MAX7000系列CPLD介紹45-50
- 4.2 CPLD計(jì)數(shù)器應(yīng)用設(shè)計(jì)50-54
- 4.2.1 系統(tǒng)計(jì)數(shù)器原理分析50-51
- 4.2.2 CPLD器件選擇與軟硬件實(shí)現(xiàn)51-54
- 4.3 量化誤差測(cè)量電路設(shè)計(jì)54-66
- 4.3.1 量化誤差測(cè)量方法54-56
- 4.3.2 模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)量電路設(shè)計(jì)56-57
- 4.3.3 斜坡電路設(shè)計(jì)57-58
- 4.3.4 A/D器件選擇和使用58-66
- 4.4 MCS-51為核心的測(cè)控系統(tǒng)組成66-67
- 4.5 本章小結(jié)67-68
- 第5章 系統(tǒng)仿真與實(shí)驗(yàn)68-74
- 5.1 計(jì)數(shù)器電路仿真分析68-70
- 5.2 斜坡電路仿真分析70-71
- 5.3 實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)驗(yàn)分析71-73
- 5.4 本章小結(jié)73-74
- 結(jié)論74-76
- 參考文獻(xiàn)76-80
- 攻讀碩士學(xué)位期間承擔(dān)的科研任務(wù)與主要成果80-81
- 致謝81-82
- 作者簡(jiǎn)介82
